傅立葉轉換紅外光譜(FT-IR)
FT-IR可用來偵測液態、固態樣品分子中各種不同鍵結結構吸收適當紅外線能量所產生分子間振動、轉動能階間的能量變化從而得到其吸收光譜。紅外線光譜可視為未知物之”指紋”，進而與資料庫中既存光譜進行比對，做材料的研究與分析。所以，FT-IR可用來確認電路板表面上的有機薄膜，或是各項產業製程中出現的汙染物。
電路板離子殘留測試
總離子殘留測試法(ROSE Test)屬於萃取溶液電阻率之分析方法，使用電導度計依照規範 IPC TM-650 2.3.25對電路板表面的離子殘留物進行定量檢測，檢測結果為總離子殘留數值，可作為電路板上離子殘留量的判定。
若要分析板上殘留物來源或取得更加精準的分析結果，建議使用離子層析儀(Ion Chromatography)進行分析，測試手法根據規範 IPC TM-650 2.3.28，可進一步分析殘留離子的種類及濃度。
離子層析儀分析
離子層析儀(Ion Chromatography, IC)利用層析原理分離溶液中不同種類的離子進行定性及精準定量(ppm)分析，具有同時分析多種離子及高再現性之優點。
鹵素(Halogen)測試法依照規範 BS EN 14582，以氧燃燒彈(Oxygen bomb)作為樣品前處理手法，再經由離子層析儀對鹵素含量作定性及定量分析。
鹵化物(Halide)測試法依照規範 IPC TM-650 2.3.28.1，以溶液稀釋及水浴方式作為樣品前處理手法，再經由離子層析儀對鹵化物含量作定性及定量分析。