
FA 失效分析
“ 透過精密觀察與分析電路板故障位置,找出問題根源並提供高效解決方案,提升產品品質與可靠性。 ”
電性實驗室
使用非破壞分析且透過電性確認,使用 OBIRCH、Thermal EMMI 來定位可能的失效位置,完成電性及相關的失效分析。
化性 / 物性實驗室
利用聚集離子、物理研磨、化學開蓋或去層的步驟,針對可疑的位置做破壞性分析,可以確認真正失效的位置與狀況,並搭配電性分析結果進而找出失效原因。
Die level
- 半導體晶片層級失效定位
Package level
- 封裝測試異常分析
Board level
- 電路板層級的整體測試與診斷
- 針對 Die level、Package level、Board level 不同階段產品失效分析,提供完整分析經驗。
- 依照不同失效模式,循序漸進選擇不同測試方法做失效異常檢測。
- 產品可靠度測試後推薦完整失效分析驗證,進行各式失效驗證方法做失效模式分析。
- 製程中汙染或殘留進行未知物分析並推測其來源。
服務項目
電性分析
非破壞性測試(non-destructive FA)
破壞性測試(destructive FA)
異物判斷