FA 失效分析

電性實驗室

使用非破壞分析且透過電性確認,使用 OBIRCH、Thermal EMMI 來定位可能的失效位置,完成電性及相關的失效分析。

化性 / 物性實驗室

利用聚集離子、物理研磨、化學開蓋或去層的步驟,針對可疑的位置做破壞性分析,可以確認真正失效的位置與狀況,並搭配電性分析結果進而找出失效原因。

Die level

  • 半導體晶片層級失效定位

Package level

  • 封裝測試異常分析

Board level

  • 電路板層級的整體測試與診斷

實驗室聯絡窗口

失效分析 | 李先生

+886-3-560-1830 #306

失效分析 | 黃先生

+886-3-560-1830 #372

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